一文讲透芯片测试 本文就芯片测试做详细的讲解和介绍。 芯片的测试大致可以分成两大部分。CP(chip probering)和FT(final test)，某些芯片还会加入SLT（system leve test）。 CP测试 CP测试也叫wafer test，也就是在芯片未封装之前对wafer进行测试，这样...
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